بيتمنتجاتأجهزة قياس الطيف بالأشعة تحت الحمراء القريبةمطياف NIR 2200nm TEC المرحلة 2 المبرد
  • مطياف الأشعة تحت الحمراء القريبة 2200 نانومتر
  • مطياف الأشعة تحت الحمراء القريبة 2200 نانومتر

    مطياف NIR 2200nm TEC المرحلة 2 المبرد

    يستطيع منتج LINA-PLUS الكشف عن إشارات طيفية قريبة من الأشعة تحت الحمراء في نطاق 900-2100 نانومتر، مُلبيًا بذلك متطلبات حساسية ونطاق طيفي متنوعة. وهو مُجهز بكاشف ضوئي InGaAs مُبرد بتقنية TEC من المستوى 2، قادر على تحقيق أقصى درجة حرارة للتحكم تبلغ 40 درجة مئوية، كما يوفر تكيفًا بيئيًا ممتازًا واستقرارًا تشغيليًا.

    مميزات المنتج
    ·الأشعة تحت الحمراء القريبة 2200 نانومتر
    ·تبريد TEC المستوى 2
    ·نسبة الإشارة إلى الضوضاء عالية
    ·ضوء ضال منخفض
    ·استقرار عالي
    ·التكوين المرن للنماذج المتعددة

كيف يمكننا مساعدتك

يمكنك التواصل معنا بأي طريقة تناسبك. نحن متاحون على مدار الساعة طوال أيام الأسبوع عبر البريد الإلكتروني أو الهاتف.
+44 7496521078 sale@rudeeroptics.com
  • تفاصيل المنتج
  • تحميل
المواصفات
الخصائص الطيفية:
نطاق الطول الموجي900-2200 نانومتر
الدقة البصرية~5.8 نانومتر (شق 50 ميكرومتر)
ضوء ضال<1%
الكاشف:
نموذج الكاشفمستشعر صورة المصفوفة الخطية InGaAs (تبريد المستوى 2 من TEC)
بكسل فعال256/512×1 بكسل
حجم البكسل50/25 ميكرومتر × 250 ميكرومتر
المنصة البصرية :
البنية البصريةهيكل تشيرني-تيرنر المتقاطع
رقم Fف/4
فتحة المدخل10/25/50/75/100 ميكرومتر اختياري
الخصائص الإلكترونية:
وقت التكامل1 مللي ثانية - 10 ثانية
الخطية≥0.998
نسبة الإشارة إلى الضوضاء5500:1(إشارة كاملة)
النطاق الديناميكي8000:1(استحواذ واحد)
دقة A/D16 بت
المواصفات الأخرى :
وزن1.25 كجم
واجهة الاتصالUSB 2.0-Type B، رقمي I/0
واجهة الأليافSMA905
نظام التشغيل32/64 بت ويندوز 7/10/11
واتساب

ترك رسالة!

ترك رسالة!

يرجى تمكين JavaScript في متصفحك لإكمال هذا النموذج.